TEM透射電子顯微鏡檢測(cè)服務(wù)
概述：
【儀器簡(jiǎn)介】
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡(jiǎn)稱(chēng)TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2nm的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱(chēng)為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須
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【儀器簡(jiǎn)介】
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡(jiǎn)稱(chēng)TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2nm的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱(chēng)為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長(zhǎng)更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長(zhǎng)要比可見(jiàn)光和紫外光短得多，并且電子束的波長(zhǎng)與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說(shuō)電壓越高波長(zhǎng)越短。目前TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。
【功能/應(yīng)用范圍】
納米材料，高分子材料，半導(dǎo)體材料，介觀材料，微孔材料等的形貌觀察、結(jié)構(gòu)分析和微區(qū)在線元素分析。
【主要附件】
能量散射X射線分析系統(tǒng)（EDS），Oxford，INCA CCD相機(jī)，1K*1K，Gatan794 TV相機(jī)，Gatan 雙傾加熱臺(tái)（Heating Specimen Holder），Gatan，最高加熱溫度1000攝氏度 Piezo漂移補(bǔ)償系統(tǒng) JEE400蒸鍍儀
主要技術(shù)指標(biāo)：點(diǎn)分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm，放大倍率200-1500000。
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